NULL pointer dereference in Samsung Semiconductor Exynos 1280
CVSS Skor
—
EPSS İhtimal
—
Risk Skoru
—
Yayın
4 sa önce
Resmî kaynaklarda yeterli kanıt bulunamadı. Bu sonuç “yama yok” anlamına gelmez.
Envanterimdeki Etkisi
Yalnızca hesabınıza eklediğiniz kişisel ürünler değerlendirilir; kurumsal envanter burada görünmez.
Oturum kontrol ediliyor…
Zafiyet Açıklaması
DayBreach AI Açıklaması
Kaynakla doğrulandıOkunan kaynak
1
Kaynak uyumu
Tam uyum
Kanıt güveni
%55
Kısa açıklama
NR RRC bileşeninde kimlik doğrulama öncesi mesajların hatalı işlenmesi, veri abortuna ve hizmet reddi (DoS) durumuna yol açar. Etkilenen ürünler Exynos 1280, 2200, 1330, 1380, 1480, 2400, W1000 ve Modem 5300/5400 serileridir. Aktif istismar rapor edilmemiştir; yama durumu belirsizdir.
DoS, hizmet kesintilerine ve ağ performansının düşmesine neden olabilir.
Ne yapılmalı?
- Samsung Semiconductor’in güvenlik güncellemelerini izleyin (S0)
- Yama yayınlandığında derhal uygulayın (S0)
- DoS etkisini azaltmak için ağ trafiğini filtreleyin (S0)
- İlgili Exynos çiplerini envantere ekleyin (S0)
- Güvenlik danışmanlığıyla risk değerlendirmesi yapın (S0)
Kanıt zinciri ve kaynaklar
CVE-2026-48174, Exynos çiplerinde NULL pointer dereference nedeniyle DoS açığıdır.
Yama durumu resmi kaynaklarda doğrulanamadığı için bilinmiyor.
Aktif istismar rapor edilmemiştir.
Kaynaklardaki teknik metni göster
In the NR RRC component, improper handling of messages before authentication triggers a data abort, which leads to a denial‑of‑service condition.
CWE: CWE-476
Açıklama kaynak kayıtlardan otomatik derlendi. Puanlar, aktif sömürü, yama ve exploit durumları doğrudan kaynaklardan gelir.
IMPACT — Etkilenen Ürünler ve Yazılımlar
Affected Products
The following products are affected by CVE-2026-48174 vulnerability. Even if our threat engine is aware of the exact versions of the products that are affected, the information is represented below.
| ID | VENDOR | PRODUCT | ACTION |
|---|---|---|---|
| 1 | Samsung Semiconductor | Exynos 1280 | İncele |
| 2 | Samsung Semiconductor | Exynos 2200 | İncele |
| 3 | Samsung Semiconductor | Exynos 1330 | İncele |
| 4 | Samsung Semiconductor | Exynos 1380 | İncele |
| 5 | Samsung Semiconductor | Exynos 1480 | İncele |
| 6 | Samsung Semiconductor | Exynos 2400 | İncele |
| 7 | Samsung Semiconductor | Exynos W1000 | İncele |
| 8 | Samsung Semiconductor | Exynos Modem 5300 | İncele |
| 9 | Samsung Semiconductor | Exynos Modem 5400 | İncele |
RED HAT CSAF/VEX — Ürün Etki Kontrolü
SCORING — CVSS Çoklu Kaynak Skoru
CVSS Scores
The Common Vulnerability Scoring System is a standardized framework for assessing the severity of vulnerabilities in software and systems. We collect and display CVSS scores from various sources for each CVE.
| SCORE | VERSION | SEVERITY | VECTOR | SOURCE |
|---|---|---|---|---|
| Kaynaklar henüz doğrulanmış bir CVSS metriği yayımlamadı. | ||||
Yama ve İyileştirme Rehberi (Solution)
Solution & Remediation Advisory
İncelenen resmî kaynaklarda yama durumu doğrulanamadı. Bu sonuç “yama yok” anlamına gelmez.
Public exploit ve aktif sömürü durumu
Doğrulanmış exploit istihbaratı
Bu CVE için henüz doğrulanmış public PoC, exploit repository’si veya Metasploit modülü bulunamadı.
Zafiyet Dağılımı ve Saldırı Kalıpları (CWE & CAPEC)
CWE - Common Weakness Enumeration
While CVE identifies specific instances of vulnerabilities, CWE categorizes the common flaws or weaknesses that can lead to vulnerabilities. CVE-2026-48174 is associated with the following CWEs:
Common Attack Pattern Enumeration and Classification (CAPEC)
Common Attack Pattern Enumeration and Classification (CAPEC) stores attack patterns, which are descriptions of the common attributes and approaches employed by adversaries to exploit the CVE-2026-48174 weaknesses.
Resmi Kaynaklar ve Danışma Bültenleri
Yama durumu bilinmiyor
Zafiyet Türü (CWE & CAPEC)
İlgili Benzer Açıklar
Bu açığı API ile alın
Etkilenen ürünler, sürüm aralıkları, istismar durumu ve yama bilgisi tek istekte; ücretsiz anahtarla.
curl -H "x-api-key: $DAYBREACH_API_KEY" \ "https://api.daybreach.dev/api/v1/intel/cves/CVE-2026-48174"